高分辨率微焦点DR检测系统   关键特征： 190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源  JIMA卡空间分辨率测试可达2微米 支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米 高分辨率的实时快速成像 快速图像处理，保存多种图像格式  主要技术规格： 微米焦点射线管 类型 反射型高功率微焦点射线管 最da管电压 190kV/225kV/240kV/300kV 冷却 封闭式自循环冷却 焦点大小 225kV/240kV：2微米 (采用JIMA卡测试) 300kV：3微米(采用JIMA卡测试) 探测器 类型 非晶硅平板探测器/线阵探测器 像素大小 100um /127um /139um/200um 像素数量 平板探测器：>2048x2048 线阵探测器：4100 机械系统 类型 高精度机械系统 最da有效检测范围 可定制化 最da承重 可定制化 旋转 nx360° 软件 类型 二维射线检测 软件功能 系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能